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JB4040型 β、γ表面污染检测仪

更新时间:2021-02-23

简要描述:

JB4040型 β、γ表面污染检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α,β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。

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JB4040型 β、γ表面污染检测仪

简介

    JB4040型 β、γ表面污染检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α,β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。  

特点

◆GM探测器阵列,探测效率高

◆便携式设计,重量轻

◆单片机控制,软件功能强

◆LCD液晶显示,会话式操作界面

◆计数率显示CPM、CPS、μSv/h

◆电池失效报警

主要技术指标

◆计数范围:1~106

◆探测器面积:25cm2

◆灵 敏 度:≥500 CPM/μSv/h

◆剂量率范围:0.01~200.00µSv/h

◆仪器本底:每分钟计数≤130 CPM

◆相对基本误差:≤20%

◆供电电源:2节1.5v普通5号电池,整机电流≤50mA

◆温度范围:-10℃~45℃

◆湿度范围:相对湿度≤90%(40℃)

◆尺寸重量:0.64kg;23×13×4.5(cm)

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